【高分辨納米電子結(jié)構(gòu)線(xiàn)站】 　　　

　　高分辨納米電子結(jié)構(gòu)研究線(xiàn)站（High-Resolution Nanoscale Electronic Structure Spectroscopy，簡(jiǎn)稱(chēng)High-NESS），采用波蕩器插入件提供偏振可調(diào)的高亮度軟X射線(xiàn)，覆蓋X射線(xiàn)能量范圍100～2000eV，在保證角分辨光電子能譜所需超高能量分辨率的同時(shí)，涵蓋了C、N、O等輕元素K邊，過(guò)渡族金屬L邊，以及稀土元素M邊等豐富的譜學(xué)信息，是強(qiáng)關(guān)聯(lián)體系研究的最佳實(shí)驗(yàn)光源，并且能夠?yàn)楦鞣N新型量子材料的表面和界面研究提供豐富的物理信息。

　　擬設(shè)計(jì)為兩種工作模式：納米角分辨光電子能譜（Nano-ARPES）和微米角分辨光電子能譜（μARPES），保證了實(shí)驗(yàn)用戶(hù)不同實(shí)驗(yàn)需求對(duì)光源的不同優(yōu)化要求，并且兩種實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ降墓獍吖步裹c(diǎn)，可在不破壞真空的情況下自由切換。

負(fù)責(zé)人：王嘉鷗（010-88235992 wangjo@ihep.ac.cn ）