【測(cè)試線(xiàn)站】 

　　HEPS對(duì)光學(xué)元件和探測(cè)器的性能要求極高，許多都在挑戰(zhàn)當(dāng)前工藝與檢測(cè)的極限。光學(xué)測(cè)試束線(xiàn)是一條提供用于關(guān)鍵光學(xué)、探測(cè)與實(shí)驗(yàn)設(shè)備研究與測(cè)試的專(zhuān)用光束線(xiàn)，主要測(cè)試聚焦設(shè)備、單色設(shè)備、探測(cè)器，進(jìn)行面形精度、力學(xué)、熱學(xué)與光學(xué)性能分析，相位影響與調(diào)控，穩(wěn)定性影響與研究；開(kāi)展新的實(shí)驗(yàn)方法的驗(yàn)證性研究，提供白光、粉光、單色光和聚焦的實(shí)驗(yàn)條件,能量范圍可擴(kuò)展至300keV,可滿(mǎn)足多種熱功率負(fù)荷實(shí)驗(yàn)的需求,可滿(mǎn)足多種聚焦方案的測(cè)試需求（如KB、CRL等）。 

　　負(fù)責(zé)人：賈全杰（010-88235994  jiaqj@ihep.ac.cn）

　　扭擺器光源光路布局 

　　波蕩器光源光路布局