Beam test of a 180 nm CMOS Pixel Sensor for the CEPC vertex detector
- 聯(lián)系作者：
- 刊物名稱：NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
- 所屬學(xué)科：
- 作者：Wu, Tianya; Li, Shuqi; Wang, Wei et al.
- 發(fā)表年度：2024
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- 論文類別：
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