一種二次電子發(fā)射性能參數(shù)測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- 英文名稱(chēng)：A secondary electron emission performance parameter test device and test method
- 專(zhuān)利號(hào)：ZL 202010013951.8
- 專(zhuān)利類(lèi)別：發(fā)明授權(quán)
- 專(zhuān)利證書(shū)號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN202010013951.8
- 發(fā)明人：閆保軍; 劉術(shù)林; 溫凱樂(lè); 王玉漫; 張斌婷; 谷建雨
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2020-01-07
- 授權(quán)日期：2025-03-11
