一種二次電子發(fā)射性能參數(shù)測試裝置及測試方法
- 英文名稱：A secondary electron emission performance parameter test device and test method
- 專利號：ZL 202010013951.8
- 專利類別：發(fā)明授權
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202010013951.8
- 發(fā)明人：閆保軍; 劉術林; 溫凱樂; 王玉漫; 張斌婷; 谷建雨
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2020-01-07
- 授權日期：2025-03-11
