一種空間單粒子效應(yīng)測試系統(tǒng)
- 英文名稱：The invention relates to a space single event effect testing system
- 專利號：ZL 202321488959.5
- 專利類別：實(shí)用新型
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202321488959.5
- 發(fā)明人：高旻; 汪錦州; 霍嘉; 李新喬; 韓大煒; 龔軻
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2023-06-12
- 授權(quán)日期：2023-11-28
