積分型像素陣列探測器的刻度方法、裝置、介質及設備
- 英文名稱：Scale method of integral type pixel array detector Device, medium and equipment
- 專利號：ZL 202011055874.9
- 專利類別：發(fā)明授權
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN202011055874.9
- 發(fā)明人：周楊帆; 謝亮; 李秋菊; 劉鵬; 李貞杰; 丁葉
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2020-09-29
- 授權日期：2021-08-24
