一種測量介質(zhì)材料二次電子發(fā)射系數(shù)的方法
- 英文名稱：Method for measuring secondary electron emission coefficient of dielectric material
- 專利號(hào)：ZL 201910405418.3
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號(hào)：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201910405418.3
- 發(fā)明人：溫凱樂; 劉術(shù)林; 閆保軍; 王玉漫
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2019-05-16
- 授權(quán)日期：2020-10-09
