專利
您當(dāng)前的位置:首頁 > 科研成果 > 專利
一種用于PET閃爍晶體性能測試的電子學(xué)數(shù)據(jù)處理方法及系統(tǒng)

  • 英文名稱:Electronic data processing method and system for PET scintillation crystal performance test
  • 專利號:ZL 201910021953.9
  • 專利類別:發(fā)明授權(quán)
  • 專利證書號:
  • 申請?zhí)枺?/span>CN201910021953.9
  • 發(fā)明人:周魏; 章志明; 魏龍; 魏存峰; 李道武; 王培林; 豐寶桐; 胡婷婷; 李曉輝; 黃歡; 黃先超; 童騰; 何文; 蔡佳樂; 楊曜
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請日期:2019-01-10
  • 授權(quán)日期:2020-09-15
地址:北京市918信箱 郵編:100049 電話:86-10-88235008 Email:ihep@ihep.ac.cn
中國科學(xué)院高能物理研究所 備案序號:京ICP備05002790號-1 文保網(wǎng)安備案號: 110402500050