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一種同步輻射的衍射增強(qiáng)成像方法
- 英文名稱：Synchrotron radiation diffraction enhanced imaging method
- 專利號(hào)：ZL 201810425620.8
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書(shū)號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201810425620.8
- 發(fā)明人：刁千順; 洪振; 張小威; 袁清習(xí); 盛偉繁; 胡凌飛; 石泓; 鄭黎榮; 姜永誠(chéng); 劉旭
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2018-05-07
- 授權(quán)日期：2019-12-03
