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正電子湮沒壽命譜測量方法及系統(tǒng)

  • 英文名稱:The positive module internal measurement method and system
  • 專利號:ZL 201710448229.5
  • 專利類別:發(fā)明授權
  • 專利證書號:
  • 申請?zhí)枺?/span>CN201710448229.5
  • 發(fā)明人:韓振杰; 況鵬; 劉福雁; 王寶義; 張鵬; 王英杰; 曹興忠
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請日期:2017-06-14
  • 授權日期:2019-06-28
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