高、低溫環(huán)境中材料二次電子特性參數(shù)的測(cè)量裝置
- 英文名稱：High, low temperature environment of the materials in the secondary electronic characteristic parameter measuring device
- 專利號(hào)：ZL 201821672485.9
- 專利類別：實(shí)用新型
- 專利證書號(hào)：
- 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201821672485.9
- 發(fā)明人：王鵬程; 劉瑜冬; 劉盛畫; 孫曉陽
- 其它發(fā)明人：
- 申請(qǐng)日期：2018-10-15
- 授權(quán)日期：2019-06-18
