專利
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用于正電子湮沒壽命譜測(cè)量的方法、系統(tǒng)以及閃爍探測(cè)器

  • 英文名稱:For the positive electronic difference along the method, system and scintillation detector
  • 專利號(hào):ZL 201610847307.4
  • 專利類別:發(fā)明授權(quán)
  • 專利證書號(hào):
  • 申請(qǐng)?zhí)枺?/span>CN201610847307.4
  • 發(fā)明人:王寶義; 況鵬; 王英杰; 章志明; 姜小盼; 曹興忠; 魏龍
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請(qǐng)日期:2016-09-23
  • 授權(quán)日期:2019-03-15
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