正電子發(fā)射斷層掃描儀深度效應(yīng)校正方法及其系統(tǒng)
- 英文名稱：Positron emission tomography scanner depth effect correction method and system thereof
- 專利號：ZL 201510956769.5
- 專利類別：發(fā)明授權(quán)
- 專利證書號：
- 申請?zhí)枺?/span>CN201510956769.5
- 發(fā)明人：孫校麗; 單保慈; 劉雙全; 葛紅紅; 贠明凱; 高娟; 李默涵; 柴培; 章志明; 魏龍; 王駿飛; 韓強(qiáng)強(qiáng); 劉志蓉
- 其它發(fā)明人：
- 申請日期：2015-12-19
- 授權(quán)日期：2018-09-28
