專利
您當(dāng)前的位置:首頁 > 科研成果 > 專利
正電子發(fā)射斷層掃描儀及其中的符合判選方法

  • 英文名稱:Positron emission tomography scanner and in the judging method
  • 專利號(hào):ZL 201210133393.4
  • 專利類別:發(fā)明授權(quán)
  • 專利證書號(hào):
  • 申請?zhí)枺?/span>CN201210133393.4
  • 發(fā)明人:豐寶桐; 魏書軍; 魏龍; 馬創(chuàng)新; 李可; 胡婷婷; 孫蕓華; 王培林; 李曉輝; 燕新強(qiáng); 胡選侯; 杜垚垚; 李國仁
  • 其它發(fā)明人:
  • 申請日期:2012-04-28
  • 授權(quán)日期:2015-09-02
地址:北京市918信箱 郵編:100049 電話:86-10-88235008 Email:ihep@ihep.ac.cn
中國科學(xué)院高能物理研究所 備案序號(hào):京ICP備05002790號(hào)-1 文保網(wǎng)安備案號(hào): 110402500050